TriStar II 3020是美国麦克仪器公司推出的全自动比表面和孔隙度分析仪。其核心原理基于气体吸附法，即在低温（通常为液氮温度77 K）条件下，向样品池中定量通入氮气或氩气等吸附质气体，通过测定样品表面在不同相对压力下对气体分子的吸附量，绘出吸附-脱附等温线。基于Brunauer-Emmett-Teller多层吸附理论，可计算出样品的比表面积；基于Barrett-Joyner-Halenda模型等，可进一步分析样品的孔径分布和孔容等孔隙结构参数。该仪器可同时进行三个样品的分析，配备独立的P0站用于实时监测饱和蒸汽压，保证了测试精度和效率。广泛应用于催化剂、吸附剂、纳米材料、陶瓷粉体、药物、电池材料等多孔材料的表面特性表征，是材料科学与工程领域中不可或缺的基础分析工具。

该设备归属管理部门为九江学院实验室与教育技术中心。